季丰自研产品助力众多实验室能力提升

季丰电子自年成功推出第一款自研产品后，如今已有10多款产品，广泛应用于可靠性试验和失效分析测试，满足季丰电子自己使用，同时也对外销售，并获得众多客户购买，包含第三方实验室、国内顶尖的设计公司、wafer厂、高校、科研院所等等。各个产品的主要功能如下：

手动探针台–涵盖4/6/8/12寸，台子、针座、针杆等全在自己工厂设计加工制造IVCurve测试系统–用于FA实验室，可视化图形化界面，简单易用H老化测试系统–2独立温区，32slots，数字，16MLVM，8电源H验板机–兼容DI、LM老化板调试，界面友好，信号波形可视化，调试速度快芯片软失效SER验证系统(抗辐照能力)–验证当外界粒子（α、γ、中子源等）进入芯片后的失效率SoftErrorRate80路射频源–60M~6GHz，-10~+29dBm功率，forRFPASwitch的老化实验千路电流电压监控系统–用于老化和BHAST实验中实时记录每个site需要监控电路的电压/电流电源监控管理软件–实时控制及记录高低温箱和BHAST箱外接电源的电压及电流值四路快速上下电电源–4路，20us快速循环上下电，最大20A，最大5V高低温控制板–用于高低温箱中SOC芯片的老化寿命实验，31个双向GPIO口，25MHz，16MBPattern老化进度监控系统–大屏幕实时显示实验项目进度情况，进度一目了然AMR-导通电阻测试系统–电阻测试精度1uΩ，自动监控和记录测试数据，//通道可选FPE-8A高速研磨机-为研磨芯片而定制的设备，8寸磨盘，转速0-rpm超低抖动时钟模块–可调节频率、fs级别输入时钟

以上产品均对外销售，可进入季丰网站

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